目的 探讨各型汉语失写症与脑损害部位的关系，阐明汉字产生障碍的机理，以及相邻神经结构功能的可塑性，为汉语失写症的诊断和康复治疗提供理论依据。 材料和方法 临床收集符合研究条件的病例资料，采用汉语失语检查法（ABC）和汉语失写检查法（CAB）两种神经心理量表，检查其口头和书面语言能力，以及确定有无非言语功能上的认知障碍。区分言语障碍类型，对左右两侧半球损害致失语、失写的比例进行统计比较。运用计算机图像处理技术，对其头颅CT或MRI进行标准化，显示病灶并二维平面叠加和三维立体重建，并与非失写对照组的病灶相减，直观显示其病灶的集中趋势，分析各型失写与脑损害部位的关系。 结果 63例病人中，左侧半球损害48例，失语30例，失写32例。右侧半球损害15例，其中失语失写各3例。两侧半球间失语失写比例有显著性差异（P＜0.01），不同性质的失写有一定的集中分布趋势。 图像处理结果显示：AAg病灶范围较为广泛，主要涉及左半球的大部分区域，但病灶较集中的区域为额顶叶深部白质。PAg的病灶范围主要集中在左额中下回后部，并延伸到中央前回深部神经纤维集中的区域。MAg的病灶则比较分散，主要集中点在左基底节、丘脑附近。VAg病灶主要位于左枕叶。 结论 汉语失写症与双侧大脑半球广泛区域的受损有关，提示书写行为依赖于大脑神经功能系统的整体协作。 不同类型的汉语失写症的脑损害部位相对集中于各自不同的区域，提示大脑某些结构对于书写行为的某些特性具有特殊意义。