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CCD(Charge-Coupled-Device),作为一种固体成像器件,以其高分辨力﹑高准确度,尤其是高灵敏性的特点,广泛应用于民用和军事领域。但也正是由于其高灵敏性的特点,CCD极易受强光(如激光)的影响。所以,研究激光对CCD的辐照效应对于很多实际工作有重要参考价值。本文比较系统地研究了工作中的可见光CCD分别受不同波长、不同工作模式的激光辐照而产生的各种效应。具体工作如下:1. 1064nm、1319nm连续激光分别辐照工作中的可见光线阵CCD的实验研究。通过实验获得了1064nm连续激光使CCD成像系统光饱和、串扰、热饱和的功率密度阈值;分析了线阵CCD的横向光饱和效应;初步证实了可见光CCD对1319nm激光的不响应特性。2.高重频(5kHz)532nm、1064nm和1319nm激光分别辐照工作中的可见光线阵CCD的实验研究。根据实验数据计算了532nm、1064nm高重频脉冲激光使CCD出现饱和、串扰以及被破坏的功率密度阈值;实验发现一定功率密度的高重频532nm脉冲激光可以使CCD局部损伤而不致整体破坏;实验进一步证实了1319nm激光不能使可见光CCD产生响应。3. 1319nm连续激光器点燃瞬间光路中工作着的可见光CCD被破坏现象的实验研究。实验发现:1319nm连续激光器点燃瞬间产生的一个1319nm长脉冲光可以破坏CCD。这说明:虽然1319nm激光不能使可见光CCD产生光响应而输出信号,但可以使其产生硬破坏。4.初步探讨了对激光干扰CCD成像的严重程度进行量化的三种方法——饱和面积法、灰度突变元法、相关度法。