本论文工作致力于研究有机发光器件(OLED)内部的电压分布问题。通过在OLED器件内部插入一层中间铝电极的方法,我们实现了对器件内部分压的直接测量。但有机半导体材料固有的低迁移率和高电阻率特性导致在低工作电压时器件呈现极大电阻(约1 G欧姆),采用简单的直读电压测量方法难以测准其分压特性。这在以往的研究工作中未引起足够重视,因而数据有误,对实验结果的解释也不尽正确。我们发展了一套基于直流电桥的分压测量方法,有效地消除了高阻造成的误差,实现了在2-40V的大范围内对有机层内部电压分布的可靠测量。新方法测量结果的正确性已通过与高阻电压表实测比对得到证实。运用这种方法进行测量,我们首次发现OLED内部各有机层的分压比例随着上作电压的变化呈现不同的变化特点,阴极端的分压先增大后减小,而阳极端的分压先减小后增大,只有在很高的工作电压下分压的比例才趋于稳定不变。即使在单层器件内,电压的分布也并不均匀。我们的实验结果还表明,改变器件的载流子注入性能和空间电荷限制会对其内部的分压特性产生重大影响。