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电阻抗断层成像(Electrical Impedance Tomography,EIT)是根据测量边界电压的扰动来估计导体内部电导率变化的一种新兴的医学成像技术。EIT图像重建一直是EIT技术中的重要研究课题,早期对EIT成像技术的研究主要在成像区域为二维的假设下进行,这种假设是对EIT成像技术的一种简化。对于二维EIT,注入电流被限定在一个断层内,事实上电流在三维空间成三维发散,因此,三维EIT是目前医学成像研究的趋势和热点。本文根据实际研究需要,从EIT问题的二维情形入手,通过建立二维