长久以来软硬件测试就是彼此独立，各自发展的两个领域，两者之间几乎没有任何联系。而事实上软硬件测试存在着许多共性，测试人员也已经自发地应用了一些相似的测试方法，也就是说软硬件测试在某种程度上存在一致性。另一方面，软件规模越来越大，测试也越来越困难。为了减轻测试负担，需要在程序开发时就考虑测试问题，即进行可测性设计。 目前，上海大学计算机学院徐拾义教授主持研究的国家自然科学基金项目“软件内建自测试技术(Built-in-self-testforsoftware，简称软件BIST)”是软件测试研究领域中的一个新概念。它将硬件测试中的内建自测试(BIST)的思想移植到软件测试和软件可测性设计研究领域中。软件BIST系统基本框架包括测试点(CheckPoint)、模板、自测试部分和测试程序。测试点负责向模板中写入测试需要的数据以供自测试部分使用，自测试部分根据模板信息生成测试用例，测试程序完成测试功能。 作为项目的一部分，本文研究的测试点的设计与实现是软件BIST系统的基本工作。测试点类似于硬件BIST技术中预埋的具有测试功能的附加电路。本文首先系统地总结了软件内建自测试的思想，然后在此基础上把测试点分为三个部分进行论述： ·针对C语言程序的单元测试和集成测试的测试点的设置策略，即在程序的不同位置插入不同功能的测试点。因为不同类型的程序具有不同的规律，因此，我们要对各种类型的程序进行分析，在此本文总结了三种类型的测试点。 ·测试点的个数统计及其合理性研究。过多过少的测试点都会影响以后的测试。测试点过多则增加程序的复杂度，过少则不能体现其作用。针对以上的矛盾，本文给出了六种解决方案。 ·三类测试点的数据结构和探针函数的具体实现。使用程序插装技术并借用LEX和YACC工具实现各测试点的功能。 软件内建自测试是软件测试中的新生技术，这种新方法为软件测试领域开拓了一个崭新的发展方向，通过将已经发展成熟的硬件内建自测试技术(BIST)用于软件测试，将有效地提高测试效率。该方法有着广阔的发展前景。