有机发光OLED显示屏因为具备色彩鲜艳、可视角度大、轻薄、省电等特性,因而被称为下一代的显示设备。OLED显示屏的制造过程极其复杂,需要近百道工序,因此在制造的过程中难免会出现缺陷。对于OLED显示屏的表面缺陷进行检测,有利于缺陷的统计分析、缺陷修补和淘汰不合格品,并通过工艺改进而提高其制造质量。本文针对OLED显示屏的缺陷检测问题,开展了较为深入的缺陷检测算法研究和系统开发,主要开展的研究工作有：1)深入调研有机发光显示屏技术的研究现状与发展趋势,了解OLED显示屏的制造过程及其可能产生的各类缺陷；2)在图像处理基础理论研究的基础上,提出基于骨架模版方式的角点提取法,将提出的角点作为图像配准的控制点,运用差影法进行差影运算,以解决图像整体匹配时花费时间长、匹配不准确等问题；3)针对标准模板与实际图像的差异性,在初始模板建立的基础上,通过动态调整标准模板解决图像匹配时的各幅图像因周围环境变化等带来的差异及不准确性；4)提出大津法的改进算法,使其具有递推特性,用以确定图像分割的阈值,实现图像的快速分割。改进后的算法在遍历整个图像的灰度值时,可以通过递推方式使本次遍历基于前一次的计算结果得出,这样可以大大降低计算量,提高其计算速度；5)基于上述OLED显示屏表面缺陷检测过程中的若干算法,本文在Visual Studio 2008开发环境下,运用C++编程语言,实现面向OLED显示屏缺陷的检测系统开发,并通过OLED显示屏图像实例,对系统的缺陷检测正确性及效果进行实验验证。