电子储存环中真空部件阻抗是引起束流不稳定性的主要原因.粒子工厂和第三代同步辐射光源等新一代电子储存环要求能够储存流强更大、束团尺寸更小的束流,给储存环阻抗和束流不稳定性的研究和抑制提出了更高的要求.结合BEPCⅡ和SSRF两项科研工程的实际需要,该文在国家自然科学基金的资助下(19875065),研究了纵向耦合阻抗测量和束流反馈系统阻尼耦合束团不稳定性两方面的问题.在纵向耦合阻抗测量方面,该文从基本测量原理出发,研究了阻抗测量中的技术关键,在清华大学加速器实验室建立了用同轴线法进行纵向耦合阻抗测量的平台,它可以测量BEPC和SSRF真空部件的阻抗.在束流反馈系统阻尼耦合束团不稳定性方面,该文从基本原理出发,分析了束流反馈系统参数和储存环参数的关系,比较了时域反馈和频域反馈两种方案.该文为BEPCⅡ工程提出了束流反馈系统初步设计方案.该文研究了通过传递函数测量诊断束流反馈系统的方法,给出了作者在美国LBNL国家实验室同步辐射光源(ALS)上测量传递函数诊断束流反馈系统的结果,该工作积累了束流反馈系统诊断的经验,为BEPCⅡ反馈系统的设计提供了参考.该文设计加工了纵向束流反馈系统冲击器(kicker)模型腔,并利用同轴线法阻抗测量系统测量了其纵向耦合阻抗,得到在工作频段1-1.25GHz,分流阻抗为500Ω,最低阻抗为100.6Ω的结果,满足了设计要求.