空间站舱门密封具有工作环境恶劣、密封可靠性要求高、寿命长、泄漏率低的特点,为了潢足空间站舱门密封的要求,设计和制作了载荷衰减实验设备,原理性泄漏率实验设备和二分之一舱门模型,并对影响密封的多种因素,如温度舱门变形、原子氧辐射、O形圈载荷衰减等,进行了大量的实验和研究.为了研究O形圈的载荷衰减对泄漏率的影响,对两种硅橡胶材料的O形圈在不同压缩率及不同温度下的载荷衰减规律进行了实验研究.泄漏率是空间门舱门密封设计中的一处重要参数,为了研究密封圈本身的泄漏性能,该文在刚度很大的平板上对O形圈密封进行了大量的原理性泄漏率实验研究.为了研究舱门籴形对密封O形圈泄漏率的影响,首先在二分之一尺寸舱门模型上进行了变形实验,实验研究了压差变形、温度不均匀变形以及由O形圈的反力和门锁夹紧力造成的舱门法兰边波度变形.同时采用有限远程序对变形进行了计算,计算结果和实验结果非常接近.在变形实验的基础上,对O形圈在二分之一舱门模型上的泄漏率进行了实验研究,结果发现,舱门的变形对O形圈的泄漏率有明显影响.在波度变形小于0.05mm时,O形圈在模型上的泄漏与原理性实验的泄漏率很接近,当波度变形大于0.1mm时,泄漏率明显增加.