光调制技术是构建现代高速光通信系统不可缺少的一环。而电光相位调制器是光通信、光信号处理和光互连的核心器件之一。其频域特性的表征对通信系统的优化和评价有着重要的研究意义。本文主要围绕电光相位调制器的高速调制特性（包括调制系数、半波电压等关键参数）测试方法以及高频接口电路设计,开展了以下研究工作:首先给出了光谱分析法测量电光相位调制器高频特性的基本思想,典型的光谱分析法有光载波零点法以及边带比值法。使用边带比值法设计仿真测量了电光相位调制器的调制系数及半波电压;并在小信号条件下,简化边带比值法,减小了计算复杂度。基于电谱分析法测量电光相位调制器高频特性的基本思想,描述了相位调制-强度调制（PM-IM）转换原理,设计了一种简单、便捷的电光相位调制器的边带抑制测量系统。利用滤波器件的窄带滤波特性,打破相位调制信号边带幅度平衡,达到PM-IM转换效果。仿真验证了测量系统的可行性,并对测量结果进行误差分析。发现误差主要是由滤波器件以及光电转换引起的。针对前者提出双光源法可减小测试误差。分析了光外差法测量电光相位调制器高频特性的基本思想。介绍了光外差的优化方法—自外差分析法,对移频自外差和移相自外差两种基本测试方法进行了原理分析和仿真验证。基于后者设计了一种双源移相自外差测试方法,该方法不仅能够测量电光相位调制器的调制系数和半波电压,而且还能测量调制相位及其线性度。仿真验证了双源移相自外差法的可行性与精度。发现该方法可实现对电光相位调制器的自校准、高分辨、高精度的测量。对电光相位调制器芯片测试进行了调研与分析,针对微波信号的输入设计了一种高频偏置匹配接口电路,并对设计方案进行了仿真验证。最后,对本文的工作内容进行总结并给出后续工作的一些展望。