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CaF_2晶体是一种传统的光学材料,由于其具有高的透射率和激光损伤阈值、均匀的折射率和低的双折射率,被广泛应用在高能量激光系统的透镜制作中。加工过程中会在CaF_2晶体表面/亚表面产生损伤,这些损伤将降低晶体的激光损伤阈值。为降低CaF_2晶体的表面/亚表面损伤,需要对损伤进行表征。为了避免检测过程中引入新的损伤,本文将采用一种非破坏性检测技术——共面掠入射X射线衍射技术(GIXRD)对样品表面/亚表面损伤进行表征,为提高晶体表面加工质量奠定基础。本文采用的共面掠入射X射线衍射技术,是一种应用在表面