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目的：通过原子力显微镜(Atomic Force Microscope，AFM)观察糖尿病牙周炎、非糖尿病牙周炎龈下菌群G杆菌菌体表面超微形态的变化和特征，以探讨两种不同类型牙周炎的致病菌是否存在形态结构方面的差异。
方法：选取糖尿病牙周炎、非糖尿病牙周炎各30例，应用AFM对每例视野内的设定标准的G杆菌（优势菌）进行扫描。为每个菌体表面lμm区域的平均粗糙度、峰值、表面积差值进行测量，观察两组G杆菌菌体表面的纳米结构变化，对比两种牙周炎龈下致病菌的形态学特征。
结果：通过观察发现糖尿病牙周炎、非糖尿病牙周炎龈下菌群G杆菌的菌体表面存在着显著的差异，糖尿病牙周炎菌体表面的平均粗糙度、峰值、隆起平均大小均明显高于非糖尿病牙周炎p<0.05）。
结论：应用AFM对糖尿病牙周炎、非糖尿病牙周炎龈下菌群G杆菌优势菌菌体表面超微结构进行观察，推测两种牙周炎的轻重差异与其各自龈下细菌的形态结构有关。