电子世界正在兴起一场深刻的革命, 这场革命以大规模集成电路和微处理器系统为标志。近来又发展了超大规模集成电路( VLSI) , 使许多传统的测试理论、方法、和技术正在为之改观。在现代测试技术中相应地开拓出一个新的测试领域, 即数字域测试。故障仿真技术从开始兴起以来, 就在测试域, 特别是数字测试域占据了一个重要的位置。电子线路在使用过程中发生故障是不可避免的。对于发生故障的电路板, 在实践中, 我们总是想尽办法来找出它的故障所在, 进而对以后的维修提供参考。本文针对电子电路在使用过程中发生的故障, 对几种测试方法进行了深入的研究, 主要讲述的是测试向量的生成算法以及使用故障仿真的方法判断测试向量在故障检测过程中的故障覆盖率, 进行电路系统可测试设计验证。测试向量生成算法包括: 伪穷举法, D 算法, 主要通路敏化法, 故障字典法。故障仿真的方法包括: 并行故障仿真和演绎故障仿真。