当今，科学技术迅猛发展，集成电路设计工艺不断提高，高速电路中互连结构的信号完整性(SignalIntegrity,SI)问题日趋严重。如今PCB板总线布线越来越密，设计芯片的体积越来越小，信号的工作频率越来越高，会产生很多信号完整性问题，如传输线间的串扰、振铃、反射、开关噪声等。而串扰是信号完整性中的一个重要问题，串扰可能在受害线上引起尖峰脉冲，也能引起电路时延的改变。串扰可能引起系统的不稳定，严重时甚至可能会引起系统的崩溃。所以，研究串扰的形成原因及其测试是非常有必要的。　　本文基于此背景下，对串扰理论进行分析，探讨了基于容性耦合与感性耦合的串扰产生机理。针对串扰产生的时延故障，基于FAN算法，提出了BFAN算法，一种串扰时延故障的ATPG算法。基准电路ISCAS’85进行了验证，得到带时间参数的时延故障测试矢量，并用C语言编程实现了整个验证过程。本文具体的工作如下：　　基于信号完整性的基础理论，分析串扰的基础理论和形成机理，并分别总结了串扰的危害及抑制方法。在其基础上深入研究了FAN算法，结合串扰时延故障的特征，研究提出了一种串扰时延故障的测试矢量生成算法—BFAN算法。研究了BFAN算法的基本思想介绍BFAN算法的11逻辑值和真值表。分析BFAN算法中的蕴含和故障的传播情况，最后研究分析了BFAN算法的基本流程。　　利用BFAN算法进行实例验证，通过解析电路文件，确定时序信息，对故障线和攻击线进行激活等一系列步骤，最终得到最后带时间参数的测试矢量，通过C语言编程对电路中的扇出线、原始输入线、原始输出线、端线分别进行了验证，成功获得带时间参数的测试矢量，最后通过对C17实例电路进行了详细的验证，从而完成了测试验证的整个过程。