分立器件是体现国家基础科技实力的重要产业。随着电子等相关行业的高速发展和广泛应用,分立器件产业的重要性也越发突出。而在整个产业链中,测试是贯穿整个产业的一部分,测试在整个分立器件行业有着极其重要的作用。因此,对分立器件测试技术及仪器的研究具有很积极的现实意义。嵌入式技术在越来越多的领域得到广泛的应用,其中包括电子测试行业。结合嵌入式技术,测试仪器不仅功能越来越强大,同时在仪器性能指标上有很大的提高。本文先介绍了分立器件测试仪的整体体系结构,以及软件和硬件需求。根据测试仪的需求,设计中选取集成ARM920T内核的S3C2440A芯片作为核心控制板的CPU,同时分别选用Nor Flash作为引导程序的存储器,选用Nand Flash作为测试程序和数据的存储器。文中完成存储器系统及驱动设计；针对测试仪启动需求的特点专门设计引导程序DDT Boot,在引导程序中完成所需接口设备的驱动设计,实现与上位机通信。此外,文中详细阐述了对测试仪总线驱动函数的设计。基于总线驱动函数,完成了各个功能板底层功能函数的设计,并进行封装。这为测试应用程序的编写提供良好的底层功能函数接口,也增加了程序的通用性。应用封装好的功能函数,可以很好完成测试程序。配合相应的上位机软件,实现测试程序的图形化编程,非常具有应用价值。