自闭症谱系疾病(Autism Spectrum Disorders,ASDs)表现为在幼年时期神经发育失常的症状,影响着1/88的美国儿童。早先应用全外显子组测序技术对自闭症家庭trios开展的回顾性研究表明自闭症发病原因中一些罕见的、de novo的基因突变扮演着重要的角色。为了检验全基因组测序在鉴定遗传性疾病的候选突变和候选基因的效果,我们测序了一个大家系(包括父母双方及8个孩子)中的2个先证者,然后应用多种数据分析策略筛选出了一系列跟自闭症谱系疾病最为相关的候选基因。假设自闭症是一种隐性遗传模式,我们在2个先证者中均鉴定出7个候选基因。同时还评估出另一种不需要疾病模式假设的数据分析策略,并筛选出一个可能会增强自闭症易感性的59个候选基因突变列表。通过人为的对这些突变进行分析后发现ANK3是最有可能跟自闭症发病原因相关的候选基因。最后,基于进化约束和ENCODE(Encyclopedia of DNA Elements)的实验证据,我们鉴定出与SMG6和COQ5相似的33种非编码突变。虽然我们没能严格的确认这些基因里是否真的在自闭症形成过程中起作用,但我们的分析结果为进一步的验证研究提供了一个优化了的短名单。这是最早利用全基因组测序技术对大的自闭症家系进行相关研究的课题之一。这些结果为在神经精神系统的和神经发育类疾病前提下,到底是在散发病例中寻找de novo突变好还是在大的家系样本中寻找遗传性突变好提供了一个讨论。