带电粒子探测技术在辐射防护、环境监测、粒子事件预报以及核素分析等领域应用普遍。由于种类多样,在对带电粒子进行探测时必须进行粒子鉴别,也就是要测出其原子序数Z和质量数A。目前,人们已经提出了许多种鉴别方法,而脉冲波形分析法(PSA)由于包含丰富的粒子信息,成为带电粒子鉴别方法的研究重点。本文基于实验事实,将频域分析引入带电粒子鉴别领域,提出了一种频率比值分析法(FRA)。论文构建了一个由全耗尽型硅探测器、前置放大器(CANBERRA Model 2003BT)、数据采集卡(CAEN V1729A)、高压电源(ORTEC 556)、快放大器(ORTEC 9302)组成的带电粒子探测平台。实验中完成了对α粒子和质子的测量。其中,α粒子由镀铀铜片衰变产生,而质子则由252Cf衰变产生的中子轰击聚乙烯膜产生。在得到实验数据后,又完成了无效数据剔除、基线消除、脉冲截取、归一化以及能量刻度等数据处理过程,再经过傅里叶变换后得到质子和α粒子的频谱特性曲线。分析两种粒子的频域特性,从而提出了一种频率比值分析方法(FRA),将第一个频率分量与直流分量的比值作为鉴别参数,进行质子和α粒子的鉴别。实验结果表明,FRA法的FOM值可以达到1.7以上,错误率低至1%以下。与时域的两种方法,电流脉冲峰值法和二阶矩法,以及频域的其它三种方法相比,FRA法的鉴别性能最好。频率比值分析法(FRA)对带电粒子的鉴别效果好,抵抗噪声干扰的能力较强,计算量不大,在带电粒子探测领域有着广阔的应用前景。