正电子湮没谱学（Positron annihilation spectroscope），是一门把核物理和核技术应用于固体物理和材料科学研究的技术，还可应用与化学和生物等学科。因其无损、灵敏度高等特点，而在材料微缺陷研究中得到了广泛的应用和越来越多的重视。　　 本文系统研究（1-x）BaTiO3-xBaZrO3（x=0.2，0.4，0.6，0.8）和（1-x）BaTiO3-x CaSnO3（x=0.2，0.4，0.6，0.8）系陶瓷的微结构；测量了在不同成型压力，不同烧结温度下样品的陶瓷片的符合正电子湮没辐射的Doppler展宽谱和正电子寿命参数；结合测量结果对成分、成型压力、烧结温度等对陶瓷样品微结构的微观作用机理进行了探讨，得到了如下结论：　　 （1）随着Ba2r03含量的增加，（1-x）BaTiO3-xBaZrO3陶瓷的正电子湮没辐射Doppler展宽商谱的谱峰值减小，产生如此变化的原因是钙钛矿结构中的B位的两种离子无序分布导致内部化学组分不均匀，成分的不均匀促使陶瓷体中的缺陷浓度增加，从而使样品的Doppler展宽的商谱谱峰下降。　　 （2）随生坯成型压力的增加，（1-x）BaTiO3-xBaZrO3陶瓷的Doppler展宽商谱谱峰升高。成型压力高于20MPa的样品，其缺陷浓度比较低。产生这样的结果的原因是压制压力使得生坯的致密度提高，孔隙率降低，原子间的相互作用增强。因此，正电子与样品中的高动量电子湮没的概率增加，引起商谱谱峰升高。　　 （3）随着烧结温度的提高，（1-x）BaTiO3-xBaZrO3陶瓷的正电子湮没辐射Doppler展宽商谱谱峰升高。产生如此变化的原因是，随着烧结温度的提高，原子迁移和空位回复加快使得样品内的缺陷浓度降低，导致Doppler展宽商谱谱峰增高。　　 （4）对（1-x）BaTiO3-xCaSnO3（x=0.2，0.4，0.6，0.8）系陶瓷，当烧结温度比较低时，由于样品中颗粒之间孔隙较大，胚体收缩率较小，缺陷浓度较高。例如，对烧结温度为1200℃的样品，其正电子长寿命成分的强度I3的值较高；其Doppler展宽的商谱谱峰较低。　　 （5）对（1-x）BaTiO3-x CaSnO3（x=0.2，0.4，0.6，0.8）系陶瓷样品，当烧结温度较高时，孔隙率下降，致密度提高，胚体收缩率提高，样品内的微观缺陷减少。正电子与样品中的高动量电子湮没的概率增加，其谱线峰值随着烧结温度的升高而逐渐升高，而正电子寿命（t1、t2、 t3）随着烧结温度的升高而逐渐下降。　　 （6）对（1-x）BaTiO3-xCaSnO3（x=0.2，0.4，0.6，0.8）系陶瓷样品，在相同的成型压力下，当样品中BaTiO3和CaSnO3的含量相差较大时，烧结温度越高，商谱的峰值差比较大；但温度较低时，商谱的峰值差比较小。当样品中BaTiO3和CaSnO3的含量相差较小时，商谱的峰值差以及平均寿命的变化范围均比较小。