X射线荧光光谱分析(XRF)是一种对各种物质进行多元素成分同时测定的常用手段,已经广泛应用于考古样品的物质成分分析.考古样品种类很多,有陶器、瓷器、青铜器、金银器、颜料等,这些样品类型繁多,所含元素不同,含量范围也很宽.考虑到考古样品的特殊性,对其的检测要求最好是无损的,该文用XRF无损法对古陶瓷样品检测进行了分析和研究.在对商周时期原始瓷的测量中,我们采用了能量色散X射线荧光(EDXRF)经验系数法对瓷片样品进行了检测.经验系数法是最早发展起来和最常用的校正基体效应的方法,它是凭经验(依靠标样)来确定系数,以表示基体元素对分析元素的影响,通过回归方程,将分析元素的含量与其谱线强度以及与样品中其他元素的关系,清楚的表达出来,从而达到校正基体效应的目的.我们使用经验系数法,确定了基体元素,对测量数据进行了基体校正,取得了良好的效果.在体视显微镜下,我们可以明显看到汝瓷的中间层,但在偏光显微镜和扫描电镜下却未观察到此中间层.为了验证此现象,我们使用同步辐射X射线荧光(SRXRF),线扫描分析了汝瓷从釉到胎的成分变化,证实了中间层的存在,并发现,该中间层的物相与胎相似而与釉不同,说明汝瓷是二次烧成,其中间层是由于釉熔融后渗入胎的表面而形成的.