快恢复二极管(FRD)主要参数包括:反向恢复时间trr,软度因子S和反向恢复峰值电流Irr。为了减小trr,工业技术从使用金扩散技术到铂扩散技术再到电子辐照技术,大幅降低了半导体器件漂移区内的少数载流子寿命,达到了减小trr的目的,但软度因子没有改善,同时增加了正向导通压降VF,使二极管在电路中功耗增大,严重制约了快恢复二极管在实际中优势的发挥。本文利用Silvaco仿真软件,将局域寿命控制技术作为研究的重点,分别对反向恢复时间trr,软度因子S,反向恢复峰值电流Irr进行了分析,综合考虑trr、S、Irr、VF之间的关系,仿真优化局域少子寿命的结构参数。通过低寿命控制区的位置进行仿真优化表明:最佳低寿命区位于PN结附近,局域寿命控制技术既能增加软度因子S,又能保持低的正向导通压降VF。低寿命区域最佳厚度取决于低寿命区的寿命。局域低寿命区的最佳宽度与最佳少子寿命值以及最大软度因子,对快恢复二极管的理论设计与工业制造有极强的理论意义与实际意义,改善了传统快恢复二极管降低反向恢复时间的同时,不能提高软度因子的问题,并且有利于正向压降的降低。