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随着微波材料介电性能测试技术日新月异的发展,测试领域也在日益的变广,其中就包括对应用于特殊环境下的非均匀微波材料的介电性能进行无损测试。本文在此研究背景下,对微波材料复介电常数三维分布的测试方法进行研究。通过对各种测试方法进行分析对比并结合课题的要求,最终选用同轴开放式同轴谐振腔测试方法,并推导相关的测试算法。为了验证测试系统的可靠性,本文用测试精度较高的高Q腔双层材料测试算法加以验证。首先是对测试系统的硬件部分进行设计：其中包括同轴开放式谐振腔与高Q腔测试腔体的设计。分析谐振腔的一些设计原则,并在