激光干涉粒子成像测量技术(IPI)是一种新的粒子测量技术,它是利用透明粒子散射光的干涉条纹图测量粒子尺寸大小,具有速度快、非接触、测量精度高等优点。其中粒子散射光特性分析是IPI测量研究中的重要内容,本文围绕这一主要内容进行了研究,所做的主要工作如下:1.对激光干涉粒子成像测量的基本理论进行了研究,给出了0阶反射光与任意阶数的散射光的干涉测量表达式。2.研究了Mie理论的基本理论和计算方法,利用改进的Dave算法进行了Mie散射光强的计算,给出了不同粒径以及不同折射率的散射光强分布。3.基于几何光学散射模型(GOM)进行了分析,针对散射角的多值问题,采用一种基于MATLAB的遍历取值的求解方法进行了求解。利用GOM对单一阶数和多阶数散射光强进行了计算,并与Mie理论进行了比较,GOM适用于大粒子。分析了各阶散射光对干涉成像的影响。4.采用Lenz连分式算法得到Debye级数散射光强分布,其结果与Mie理论、GOM的解进行了比较。Mie理论与Debye级数展开计算的散射光强分布相同,GOM与Debye级数展开计算的散射光强分布在对大粒径的散射光强计算时基本相符。利用Debye级数展开计算了各阶散射光的强度分布,分析了单阶以及多阶散射强度分布对总散射光强的影响。5.利用Matlab语言和Visual C++ 6.0语言混合编程,完成了激光干涉粒子成像测量的软件界面设计。