本文设计了光电器件(光敏电阻、光电池、光电二极管等)的光电特性和光谱特性的检测系统。在光电器件光谱特性测量的原理上采用了三种方案进行比较:即衍射光栅型、Fabry-Perot干涉仪型和Michelson干涉仪型进行了对比。最终采用衍射光栅单色仪作为测量光电器件光谱特性的设备。在光电器件的光电特性测量方面,本文采用了一个红光激光器作为光源,并且用一个可变恒流源作为激光器驱动,使其输出激光功率可调。在可变恒流源驱动控制上本文采用ARM主控板对单片机进行控制,在由单片机对D/A进行控制调节可变恒流源进行光功率控制在信号采集系统中,本文采用模拟电路对光电器件的测量。经过模拟电路进行光电转换,并通过数控多路模拟开关进行器件选通。然后经过一级可变增益放大器,在经过A/D变换,通过单片机串口将数字数据传输到ARM主控制板内进行处理。采用WindowesCE.net操作系统对数据进行处理。由于测量电路和各种光电器件都存在误差所以需要进行软件标定。经过软件处理对所测数据进行曲线拟合,最终显示在一块7寸触摸屏上进行显示。