空间辐射环境下航天器电子学系统的可靠性问题是制约航天事业快速发展的一个瓶颈,探讨空间卫星的抗辐射屏蔽和加固问题,寻找更为有效的抗辐射屏蔽的方法,提供给设计者一些建设性的参考数据是很有意义的工作.本文首先简述了外辐射环境并回顾了卫星抗辐射加固的一些方法和技术,然后概述了电子和物质基本相互作用的一些概念作为本文的理论基础,再介绍了计算机模拟用的两个Monte-Carlo程序EBDD和Layer.本文的主要部分和主要结论是来自于在计算机上进行的大量模拟计算和在实验室中完成的一些实验.本文用计算机模拟的方法对比了几种抗电子辐射的屏蔽材料,找出了较为有效的屏蔽方式来屏蔽几个MeV能量电子的辐射,总结了一些屏蔽电子辐射的规律.本文还利用β射线标准源进行了一些辐照实验,验证了这些屏蔽材料和屏蔽方式的屏蔽效率.计算机模拟和实验的结果在15﹪的误差范围内,一致表明:轻重材料搭配的屏蔽方式可以取得比单纯用Al更好的屏蔽效果,能使入射能量衰减到1/200以下,但是材料安排次序的不同会引起屏蔽效率几倍的差别.通过计算机模拟还发现:在屏蔽材料的总质量厚度一定的前提下,要取得最佳的屏蔽效果,对不同的入射能量其重材料所占的比率也不相同,本文通过大量计算和数据的拟合得出了在不同入射能量下,材料的比率和屏蔽效率之间的函数关系.在地球同步轨道的辐射环境下,我们采用在卫星的单机机壳上加涂层的屏蔽方式进行屏蔽.用计算机模拟了卫星的球壳模型,发现采用了这种方式后的模型,与质量相同单机机壳是Al的模型相比,在模型中央的硅球内累积的辐射剂量降低了1倍多,或者达到与3mmAl的机壳差不多的屏蔽效果其质量却可削减1/4到1/3;同时,我们也设计了一种在芯片管壳进行的局部屏蔽的新技术,模拟了加固后的集成芯片模型的受辐射情况,计算得出材料Si在10内的累积剂量,得出的结果远低于对芯片抗辐射剂量的要求.