在各类薄膜的生产过程中,薄膜厚度一直是衡量薄膜生产质量的一项重要指标。在薄膜生产时应该对它进行实时的检测并进行相关调整。目前许多国内外薄膜生产企业都在使用X射线测厚系统检测薄膜厚度,但目前在市场中的X射线测厚系统在通信方式和厚度数据统计分析方式中存在着两个问题:1、这些测厚系统大都采用MPI、RS232等通信距离和速度较短的通信方式;2、在监测软件中,这些系统大都只是简单的显示当前的厚度数据,并没有对厚度数据进行多角度的统计分析。针对上述问题,本文设计了一套能够有效解决这些问题的X射线测厚系统。首先,本测厚系统选择了使用具有网络通信模块的S7-1200 PLC作为下位机核心控制单元,在上位机监测软件中我们开发了基于IOCP(Input/Output Completion Port)的网络服务器。在上下位机的通信中我们采用C/S结构,将下位机PLC端视为客户端,上位机监测软件作为服务器,通过S7-1200 PLC的PROFINET网络通信接口与上位机进行通信,这样我们就能通过网络传输的大带宽与远距离特性解决通信距离和速度的问题。其次,在本课题所设计的测厚系统上位机软件中,通过对薄膜生产企业对上位机软件的实际需求调查,本测厚系统的上位机监测软件对下位机PLC端上传的厚度数据可从多个不同角度的进行数据统计并以图形化的形式进行显示。在系统的实际使用中,薄膜生产企业工作人员可以通过监测软件中轮廓图、多轮廓图、曲线图、趋势图、分布图和定点图任意一个角度选择观察厚度数据的统计结果,这给薄膜生产企业的管理人员掌握生产状况提供了极大地便利。在本文中,首先介绍了课题的研究背景和国内外研究现状,然后对测厚系统的工作原理、上位机和下位机分别进行了分析和开发设计,最后本文对测厚系统的具体性能进行了测试并总结了系统的优势与待完善的地方。目前本课题所设计的测厚系统已经试运行在一家薄膜生产企业的PVC薄膜生产线上,运行状况良好,这说明本课题所设计的测厚系统能够满足薄膜生产企业对厚度测量系统的要求,为企业的薄膜生产降低成本,提高产品质量。