随着电子科技技术的不断发展,我们对电子类产品的能耗和体积有了更高的要求,以往产品生产结束后的检验都是依靠目测,但是无论从检验效率和精确度来讲,这已经明显不能满足我们的需求,同时也在一定程度上制约了集成电路生产技术和质量的提高,成为了一个必须要突破的瓶颈,于是我们引入了自动光学检测技术。传统的AOI设备采用的是CCD的图像传感器,而我们一直在想办法解决两大难题,一是CCD摄像系统的集成,它包括LED光源系统,图像摄取系统,数据传输系统已经图像处理系统。二是算法,主要涉及到元件的识别,图像处理速度等问题。三是CCD摄像系统的成本问题,CCD的像点电荷都是以行为单位一步一步地转移到读出区的,这一个特征大大制约了CCD的工作频率。而CMOS图像传感器却能很好的解决以上问题,本文以MICRON公司的MT9D111芯片为例,介绍了其主要的参数性能,以及进行了实验证明了基于CMOS图像传感器的AOI设备的可行性,在工作效率和成本控制的表现由于CCD图像传感器。