【摘 要】
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随着集成电路技术的发展,微处理器核已被广泛应用于SOC产品中。由于微处理器核结构复杂,而且嵌入在SOC内部,大大增加了测试的难度。传统的结构测试方法和功能测试方法对于SOC
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随着集成电路技术的发展,微处理器核已被广泛应用于SOC产品中。由于微处理器核结构复杂,而且嵌入在SOC内部,大大增加了测试的难度。传统的结构测试方法和功能测试方法对于SOC内微处理器核的测试都有其不足之处。结构测试方法由于要在微处理器核内部插入测试电路,不可避免地会对微处理器核的性能产生影响;功能测试方法虽然不需要修改内部电路结构,但是故障覆盖率低,所以需要一种新的测试方法,基于软件的自测试方法是一种以结构性故障为指导的功能测试方法,它具有结构测试方法和功能测试方法的优点。 本文采用基于软件的自测试方法和存储器测试方法对SOC内微处理器核进行测试设计。首先测试微处理器核存储器,然后利用基于软件的自测试方法测试其他微处理器核模块。对于微处理器核内的嵌入式存储器,采用存储器内建自测试方法设计了存储器BIST控制器;对于微处理器核其他单元模块,采用基于软件的自测试方法生成程序程序,利用测试程序对被测单元模块生成测试向量、加载测试向量和采集测试响应,最后根据响应判断微处理器核是否有故障。 本文以一款通用的8位处理器PARWAN作为研究验证对象,对其进行了存储器测试和内部其他单元模块的自测试。仿真验证结果表明,所设计的存储器内建自测试BIST控制器可以测试出存储器的各种常见故障。基于软件的结构性自测试方法可以测试出处理器核内的呆滞型故障,开路短路故障和桥接故障,并且达到比较好的测试效果。
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