现代电子电路具有集成化、小型化的特点，无源表贴元件（SMD）已经成为电子设计的主流，并广泛应用于射频领域的电路设计中。因此，在射频频段准确地测试表贴元件的特性参数，对于电子电路的设计是至关重要的。目前，对无源表贴元件的测量主要集中在低频段（1GHz以下），高频段的测试技术尚未成熟，国内还缺乏合适的测试方法。针对这一现状，本文对无源表贴元件在射频频段的测试技术进行了系统研究，得到了较为成功的测试方法。本文主要的研究工作如下：1．本文通过分析国内外相关技术，依据无源表贴元件的物理特性，确定了采用网络分析技术和微带线传输测试相结合的方案。2．分析了二端口网络误差模型和校准方法的基本原理，采用TRL校准方法，确定了相应的十项误差模型，获得了误差参数和S参数的计算公式。3．根据本文设计要求，建立了在2~12GHz的TRL校准电路和串联直通测试电路，并在此基础上设计了测试夹具的机械结构，优化了PCB板TRL校准与测试电路的性能，提高了测试方法和测试系统的适用性。4．建立了自动测试系统，实现了校准、测试的自动化。编写了vb控制程序，实现了计算机对矢量网络分析仪的控制和数据采集；编写了matlab计算程序，完成了射频无源表贴元件参数的提取。本文完成了测试系统和相应软件的调试。在校准测试系统后，对贴片电容进行了实测，得到了电容器相关参数随频率的变化特性，其曲线变化规律与表贴电容射频段的基本特性相吻合。同时，采用该测试系统对贴片电阻和电感进行了测量，并得到了其相关参数。对系统的重复性进行了考察，重复性很好。通过对一系列测试结果的分析，验证了该测试方法与测试系统是可靠的，本文的研究方案是可行的，理论分析是正确的。