高性能的天线研发离不开一套高精度的测试系统。微波暗室中的天线测试系统主要包括转台及伺服系统、测试仪器和监控系统。其中转台及伺服系统等硬件部分的性能优劣将直接影响微波暗室中天线测试的准确性,因此硬件部分的设计显得十分重要。本文设计并研究出一种基于ARM的微波暗室测试系统的硬件方案,主要包括伺服系统的底层驱动设计和电机控制部分设计。测试系统通过ARM处理器控制电机的转动,调整被测天线的姿态的同时记录被测天线的天线图等测试数据。本设计硬件核心基于型号为Atmel AT91SAM9263的单板机,设计出一种可以自动完成远场收发的测试系统,简化了天线测试的操作步骤。借助频谱仪,系统能够准确测量天线方向图、主瓣宽度、波瓣宽度、增益等参数。本系统具有测量误差小、抗干扰能力强、测量灵敏度高等特点。本设计的创新点是借助于嵌入式系统良好的扩展性,使用高精度的轴角编码器,以及裁剪了内核linux2.6.24,删除了MCI、显示屏等驱动,移植了网络接口、AD等驱动。通过PID算法的优化增加了电机转动的稳定性和准确性,从而解决了测试过程中比较棘手的对准问题。测试过程的自动化在一定程度上简化了复杂的天线测试过程,方便非专业人员对其进行操作。