随着军事目标隐身技术的发展,人们对红外隐身材料发射率的测量装置以及测量精度的要求越来越高。红外隐身材料的光谱发射率是评估武器系统红外隐身性能的关键参数,对武器系统隐身性能的好坏起到了关键的作用。本文旨在建立一套针对红外隐身材料的光谱定向发射率测量标准装置。根据发射率定义以及相关国家标准,采用绝对测量方法,应用双光路系统,通过对光谱发射率各种测量方法的对比选择了基于傅里叶变换光谱仪的发射率测量方法。通过对国内外各种测量材料发射率的方法的对比,本文设计了一套针对-30～70℃红外隐身材料的的基于傅立叶红外光谱仪的光谱发射率和光谱定向发射率测试系统。发射率测量系统的测试温度范围-30～70℃,光谱范围为3～5μm和8～14μm,角度范围为0-60。。系统包括傅里叶红外光谱仪、低温黑体炉、样品加热炉、光学系统等。设计了基于多级半导体制冷器的样品加热炉系统,对基于傅里叶红外光谱仪的发射率测量装置的背景辐射补偿方法进行了理论研究。完成了发射率实验测量,对测量不确定度进行分析和计算,证明了该测量装置的可行性。