射频识别(RFID)技术是一种无线电子识别技术,在自动识别、物流运输、安全管理等领域应用广泛。在UHF频段的射频识别系统中,RFID读写器天线需要同时从大量的RFID标签中探测和读取信息。标签信号之间的相互干扰容易造成信号冲突,导致识别成功率降低。为了减少或避免信号冲突,相控波束扫描天线阵技术被引入RFID读写器天线的设计中,它能有效提高标签识别的成功率。本文提出了一款工作于UHF频段的双短路倒F结构双面波束扫描RFID读写器天线阵。为了满足系统对性能和尺寸的要求,该天线阵单元采用双短路片倒F天线结构,与传统贴片天线结构相比,有效减小了尺寸,为天线阵低剖面、低造价、小型化和易加工等特性的实现提供了基础,具有潜在的市场价值。波束扫描天线阵由3×3双短路倒F天线单元组成,总体尺寸为30cm×30cm×15mm。测量结果表明,该天线阵的工作频段为845-873MHz,覆盖欧洲标准RFID频段,天线阵能够在XOZ和YOZ两个垂直平面分别实现±20°、±60°波束扫描角度,增益达到10dBi。经过实验证实,波束扫描读写器天线阵的性能可有效提高RFID系统的读取范围和准确度。此外,本文还将一款新型缺陷地结构引入双短路倒F天线的线阵中,分析了该结构对线阵中天线单元间互耦的抑制效果。最后,针对3×3双短路倒F天线进行耦合抑制参数优化设计,经过参数优化,天线阵整体性能得到了提高。