微片激光回馈干涉仪采用了移频光回馈原理和外差式相位测量技术,具有高灵敏度、纳米级分辨率的优点,可以实现表面反射率低于10书的被测物体的完全非接触式测量。因此,其在高精度测量领域具有广阔的应用前景。微片激光回馈干涉仪的稳频及其在材料热膨胀测量中的应用是本论文的研究内容。微片激光回馈干涉测量系统实现精确测量的基础取决于光源输出波长的准确度和稳定程度,以及弛豫振荡的稳定程度。因此,本论文研制了端面泵浦温度控制稳频Nd:YVO4微片激光器,其特征在于：半导体泵浦源和Nd:YVO4微片晶体分立温度控制稳频。经验证,完成指标如：较易调节获得单纵模、线偏振激光输出；长时间频率稳定度优于1.5×10-；频率重复性优于5×10-7：弛豫振荡长时间稳定。最后,通过反复的实验分析,指出了造成稳频激光器频率不稳定的因素,为后续微片激光器稳频精度的突破打下了基础。高灵敏度、完全非接触测量技术为大温度范围、高精度的材料线膨胀系数的测定研究提供了理论依据和关键技术。因此,利用微片激光回馈干涉仪高灵敏度的优点,本论文开展了基于微片激光回馈干涉法的材料线膨胀系数的测量应用研究。经验证,设计的材料线膨胀系数测量系统实现了铝、/15#钢和碳纤维复合材料样品的测量；测量温度范围为298K-748K；特别是,本文设计的补偿光路很好的消除了高温炉膛内外的扰动,且对铝和45#钢样品的测量结果表明：温度范围为298K-598K内的精度优于5×10-7 K-I,准确度优于0.4%。本项研究内容为基于微片激光回馈干涉法的材料线膨胀系数测量系统的仪器化提供了实验和理论基础。