振荡猝灭现象主要分为振幅死亡(AD)和振荡死亡(OD),是一种集群动力学行为,其中振幅死亡在工程减震优化控制领域具有广泛研究,而振荡死亡在生物医学方面有重要意义。实际上,影响耦合电路系统振荡猝灭动力学行为的主要因素为内在的非线性项和外在的耦合通道特性,因此,内在的非线性项和外在的耦合通道特性为研究各种形式的振荡猝灭动力学以及它们的特点、条件、内在机制和控制原理提供理论依据,为工程和生命科学中猝灭现象的研究提供应用价值。本文主要探究具有不同通道特性的耦合方式(时变开关耦合、低通滤波器和正负反馈耦合)对振幅和振荡死亡的产生以及两者间相互转变过程的影响。(1)时变开关耦合作用下,研究了耦合作用的调制频率和调制振幅对耦合周期(或混沌振子)的影响,结果表明随着调制振幅增大,振幅死亡区域先增加后减小,调制频率越大时,振幅死亡区域的临界调制振幅也增大;(2)耦合电路通道中的有源滤波器的特性对耦合系统动力学行为的影响,结果表明单(双)通道耦合系统(不管是局域和全局扩散耦合系统,还是共轭耦合系统、平均场耦合系统)的振荡猝灭现象都与低通滤波器截止频率和有源器件参数密切相关,并且在单通道扩散耦合(局域和全局耦合系统)、单(双)通道共轭耦合系统以及单通道平均场耦合系统中发现了非对称振荡死亡(ASOD);(3)在正负反馈耦合(吸引或排斥耦合)通道特性中,研究耦合作用与非线性元器件(控制耦合通道场密度)的符号变化对耦合系统的影响,结果表明在全同Stuart-Landau耦合系统中耦合强度和场密度参数符号同正或同负时,非普通振幅死亡(NTAD)和对称振荡死亡(OD)都会呈现镜像对称性,而在全同Van der Pol耦合系统中耦合强度和场密度参数符号只有同正时才会产生明显的镜像对称性,并且通过电路仿真也印证了这一结果。本文的研究结果能够通过理论与数值完美吻合,上述研究成果有利于理解各种振荡猝灭动力学行为产生的内在机制以及控制原理,可以为工程和生命科学中猝灭现象的研究提供理论依据和应用价值。