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本论文以对分析仪器的研究为背景,以提高分析仪器的自检能力为主要目标,详细讨论了分析仪器中各个主要功能模块的自检设计方法。随着计算机技术的飞速发展和大规模集成电路的广泛应用,仪器在改善和提高自身性能的同时,也大大增加了系统的复杂性。这就给仪器的自检带来了诸多问题,如自检时间长,故障诊断困难、使用维护费用高等,仪器的自检设计逐渐引起了人们的高度重视。自检的目的主要是为了提高系统的可靠性,而可靠性是衡量产品质量的一个重要指标。随着科技的发展,在一些高科技领域特别是国防、航空等领域,可靠性得到越