矮化突变体是研究调控株高的分子机理及矮化育种的重要材料。本文对两个不同倍性的小麦矮化突变体进行了分析,并克隆了产生这种矮化表型的候选基因。四倍体小麦突变体Met0187和六倍体小麦突变体Mfh0014都表现为低温诱导的细胞程序性死亡和矮化表型,矮化和细胞坏死表型在F2群体中共分离。从矮化的表型特征推测为GA信号途径相关的突变体。对其喷施适当浓度的外源GA3后可使突变体株高恢复,说明突变体的GA3应答途径上没有发生变异。在对GA合成途径上的调控基因定量表达分析后发现,突变体中的基因TaKAO表达量明显低于野生型,且前体GA20和GA1的含量测定结果进一步证明了是GA合成途径被抑制或阻断导致了矮化表型的产生。与矮化表型表现出共分离的还有细胞程序性死亡表型。ROS清除系统中的抗氧化酶APX、DHAR和GR的定量表达分析结果显示,在细胞程序性死亡表型产生过程中突变体中三种酶的表达量均高于野生型;且添加过氧化物清除剂NAC,可延迟坏死斑的形成。推测突变体中ROS信号途径的增强,导致了过氧化物的过量积累,从而使植物产生了坏死表型。在前期遗传定位的基础之上,图位克隆了两个可能与矮化和细胞程序性死亡有关的基因,该基因是小麦突变体库中的两个新成员,它们的发现为研究细胞程序性死亡和矮化性状之间的内在机制提供了新视角。