研究背景：偏头痛是一种临床常见的、慢性反复发作性脑部功能异常,其发病率高、危害大。反复发作的偏头痛会慢化为慢性偏头痛,慢性偏头痛会明显影响患者工作及生活质量,具有显著的致残性,同时也常伴有脑血管疾病、情感障碍等多种严重的合并症。目前慢性偏头痛的病理生理机制尚不完全清楚,多数学者认为与发作性偏头痛的慢化密切联系。发作性偏头痛患者可出现脑结构和功能变化,磁共振检查时会有相应体现。弥散张量成像技术是一种无创性研究脑白质纤维形态结构的技术,可以清楚地显示病变,在发作性偏头痛中应用成熟,而在慢性偏头痛中的应用较少。目的：利用磁共振弥散张量成像技术对年龄、性别相匹配的慢性偏头痛患者及健康对照者的双眶额皮质、双侧额下回、双侧颞极、前后扣带皮层、胼胝体膝、体部、压部、双侧丘侧脑及内囊前肢、膝、后肢进行检测对比,以研究可能存在的微观结构异常变化,并观察患者临床特点及与上述变化的相关性。方法：选择2013年10月～2014年10月山东省立医院神经内科头痛专病门诊就诊的慢性偏头痛患者(病例组)及年龄、性别相匹配的同期健康体检者(对照组)各50例,进行颅脑磁共振弥散张量成像(DTI)检查,分别于双眶额皮质、双侧额下回、双侧颞极、前后扣带皮层、胼胝体膝、体部、压部、双侧丘侧脑及内囊前肢、膝、后肢设置感兴趣区,测取部分各向异性(FA)值、表观弥散系数(ADC)值,并结合临床特点进行相关性分析。结果：(1)病例组眶额皮质、前后扣带回皮层、胼胝体压部、右侧内囊前肢FA值均较对照组明显降低,差异有统计学意义(P<0.05))。(2)病例组右侧眶额皮质、左侧额下回皮质及前后扣带回皮层ADC值均较对照组明显升高,差异有统计学意义(P<0.05))。(3)病例组双侧眶额部皮质和右侧内囊后肢FA值变化与患者的头痛频率及病程呈负相关；左侧内囊后肢FA值变化与头痛频率负相关。(4)病例组左侧眶额部皮质ADC值变化与患者的头痛频率及病程呈正相关；右侧眶额皮质和前扣带回皮层ADC值变化与患者的头痛频率正相关；后扣带回皮层ADC值变化与患者的头痛病程负相关。结论：慢性偏头痛患者双侧额叶皮质及扣带回皮层存在微观结构异常变化,且这种变化与病程及发作频率相关。