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控制合成条件以浊化学法制备超细颗粒CeO2和Ce0.5Zr0.5O2固溶体X射线粉末衍射证实两者绵为立方相。在氧化、还原气氛50℃到650℃条件下分别对样品进行原位拉曼光谱研究。结果发现除440 ̄470cm^-1出现面心立方晶格F2g拉曼活性模式对应的强拉曼谱峰处,220 ̄280(290 ̄320)、400 ̄410和560 ̄600(570 ̄620)、780 ̄840(770 ̄790)及1150 ̄118