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用英国Sunderland Polytechnic公司发展的一种系统可以容易而精确地测出薄膜镀层的抗划性。
薄膜抗划性测量
【摘 要】
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用英国Sunderland Polytechnic公司发展的一种系统可以容易而精确地测出薄膜镀层的抗划性。
【出 处】
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激光与光电子学进展
【发表日期】
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1989年26期
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