论文部分内容阅读
利用可在常温至1 200℃下,对样品进行边加热边检测的θ-θ扫描(立式测角仪)密封陶瓷X射线管全自动衍射仪及X射线荧光,再结合表面形貌特征等对涂抹"锡汞齐"的高锡铜镜样品进行了检测分析,证明在加热到高于Hg的沸点时含汞物相会逐渐消失;说明铜镜或青铜器表层中有无Hg不能作为判断其是否采用过"锡汞齐"工艺的依据,并且从使用角度来看,铜镜涂抹"锡汞齐"也没有必要。