一种MEMS可调光衰减器性能测试及动态响应分析

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一种基于微细电火花加工(EDM)技术的非硅基MEMS可调光衰减器,以电磁线圈驱动微反射镜,本文介绍该器件特性测试及动态响应分析,结果表明,驱动电压为0~8v,工作范围0~35dB,动态响应时间为2ms,插入损耗小于0.8dB,回波损耗小于-50.5dB。
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