荧光粉电子激发恶化与阳极电压的关系

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本文采用体积能量密度作为度量参数,提出了随阳极电压而变的荧光粉库仑恶化模型,以在30kV时的松密度荧光粉恶化为基准,对其降致2kV时的库仑恶化进行了计算。这个模型的结果表明:在给定的电荷量下,恶化随阳极电压的降低而增加。考虑到工作在低压显示CRT亮主时,有电荷量的积累,故只有适合于30kV的荧光粉可用于低压。实验证实了对氧化物、硅酸盐以及硫化物荧光粉所预期的在4KV时的恶化。在4kV下测得的硫化锌
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