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对光子晶体光纤的损耗特性进行了分析，并在实验上对两种典型的光子带隙型和全内反射型光子晶体光纤进行了研究．分别对两种不同结构的光子晶体光纤在弯曲半径2～15mm范围内的损耗进行了测量．与传统光纤损耗实验结果的对比表明，两种光子晶体光纤的弯曲损耗均不明显，具有很强的抗弯曲损耗能力．实验也证实了光子晶体光纤弯曲损耗存在临界弯曲半径，在大于临界半径的情况下，几乎没有弯曲损耗．从结构上分析并证明光子晶体光纤弯曲损耗随填充比（d／Λ）的增加而减小，填充比越高弯曲损耗越小．