Surface Characterisation of Silicon Based MEMS

来源 :Chemical Research in Chinese Universities | 被引量 : 0次 | 上传用户:GOUGOU2929
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Polysilicon Microelectromechanical systems (MEMS) are the subject of intensive researches. Surface chemistry and topography of a MEMS test structure fabricated at Sandia National Laboratory, USA, were studied by means of scanning electron microscopy(SEM),
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