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根据系统级BIT设计的要求，明确了系统级BIT设计中测试选择所需解决的问题，提出了测试选择的基本思想，在此基础上，利用系统级故障隔离的间接熵法实现了系统级BIT设计中的测试选择，并引入测试时间和故障发生频率参数对间接熵法进行了修正，获得了可以较快地判断系统是否可用并隔离大概率故障的测试集。理论分析及实验数据表明，该文提出了系统级BIT设计中测试选择方法是有效的。