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采用化学气相沉积（CVD）法,以高纯ZnO、Mg和活性C混合粉末为原料,在Si（111）衬底上制备了不同配比的取向Zn1-xMgxO纳米线阵列.用X射线衍射仪（XRD）,扫描电镜（SEM）,能量色散X射线分析（EDAX）及光致发光（PL）光谱分析仪对样品的晶体结构、形貌、成分组成和光致发光特性进行了分析.用霍尔效应测量系统测试了不同配比样品的载流子浓度.实验发现,当Zn1-xMgxO纳米线阵列中Mg原子相对Zn原子摩尔比x值较小时（x〈0.29）,XRD衍射谱中只有ZnO晶体标准衍射峰,没有MgO晶体衍射