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针对导弹研制阶段的技术风险特点,基于故障树理论建立技术风险逻辑结构,利用R-FT对导弹研制阶段技术风险进行概率计算和影响分析.将R-FT通过BDD方法转化为只含有基本风险事件的BDD逻辑关系图,直接对底事件进行定性、定量分析.描述了基于FT-BDD方法对导弹研制阶段技术风险进行分析的整体思路和实现途径.