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随着集成电路技术的发展,IP核复用成为集成电路SOC设计的主流.该文通过对广泛应用于SOC设计中的Wishbone总线体系结构和国际上常用IP核测试方法的研究,提出一种基于Wishbone总线结构的情景式IP核测试方案.通过对该方案应用于实际项目后所产生实验数据的分析,证明这种IP核测试方案能大大降低系统层测试难度,加快系统层设计速度,并能显著提高测试激励效率和可观电路结构测试覆盖率.