【摘 要】
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采用X射线荧光光谱法(XRF)分析铝合金样品时,某些合金元素因含量变化、热处理工艺不同,形成不同的金相组织,在微观上分布不均,基体效应难以有效校正,导致校准曲线难以建立.实验采用熔融法把屑样铝合金制备成玻璃片,消除了基体干扰;选用高铝耐材标准样品,并配以高纯氧化物、标准溶液制备了系列校准样品,建立了XRF分析铝合金中铝、硅、镁、铁、钛、锰、铜、锌8种组分的方法.试验确定了最佳制样条件:以8.0000 g四硼酸锂熔融挂壁作为坩埚保护层,称取0.2000 g铝合金、2.0000 g碳酸锂,混匀.将坩埚移入电炉
【机 构】
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宝山钢铁股份有限公司研究院,上海201900
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采用X射线荧光光谱法(XRF)分析铝合金样品时,某些合金元素因含量变化、热处理工艺不同,形成不同的金相组织,在微观上分布不均,基体效应难以有效校正,导致校准曲线难以建立.实验采用熔融法把屑样铝合金制备成玻璃片,消除了基体干扰;选用高铝耐材标准样品,并配以高纯氧化物、标准溶液制备了系列校准样品,建立了XRF分析铝合金中铝、硅、镁、铁、钛、锰、铜、锌8种组分的方法.试验确定了最佳制样条件:以8.0000 g四硼酸锂熔融挂壁作为坩埚保护层,称取0.2000 g铝合金、2.0000 g碳酸锂,混匀.将坩埚移入电炉中,预氧化初始温度为600℃,升温至700℃,保持120 min,缓慢升温至800℃;取出冷却,加入约0.045 g溴化氨,移入熔融炉内,1100℃下摇摆熔融30 min,制得均一的玻璃片.考察了方法的检出限,镁为0.066％,硅为0.0071％,其余元素低于硅的检出限;实验方法用于测定铝合金屑样,结果的相对标准偏差(RSD,n=9)为0.31％～11％;实验方法测定6个标准样品,测定值与标准值相一致.
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