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用正电子寿命谱研究了电镀纳米镍（～２０ｍｍ）中的微观缺陷，分析了缺陷中的氢对正电子寿命的影响。实验结果表明：界面存在单空位大小的自由体积、６－１０个空位大小的自由体积和微孔洞三类缺陷；纳米镍在５００℃真空退火２ｈ后，中间寿命和最长寿命的强度不受影响，表明中间寿命和最长寿命所对应的缺陷具有很好的热稳定性。