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半导体制造工艺不断发展和特征尺寸缩小给闪存可靠性带来挑战。闪存可靠性测试与评价越来越重要。闪存可靠性测试是智能卡芯片可靠性测试中的关键测试。本文介绍了电信智能卡芯片在应用场景下的闪存耐久力测试方法。
基于电信智能卡芯片应用场景的闪存耐久力测试方法
【摘 要】
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半导体制造工艺不断发展和特征尺寸缩小给闪存可靠性带来挑战。闪存可靠性测试与评价越来越重要。闪存可靠性测试是智能卡芯片可靠性测试中的关键测试。本文介绍了电信智能卡
【机 构】
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北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室
【出 处】
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中国集成电路
【发表日期】
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2017年12期
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