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为了解决传统尺寸测量方法在微型电子接插件测量上准确度偏低的问题,对传统尺寸测量方法进行了改进。在分析传统测量方法的流程、算法适用性的基础上,通过增加规则边缘拟合,调整模板匹配的顺序,对测量流程上进行了改进;在边缘检测过程中,对传统Canny算法进行改进,提出了一种自适应阈值非闭合弱边缘剔除的边缘检测算法。所提出的测量方法有效降低了外部环境造成的测量偏差。通过搭建实验软硬件平台,并以BK-3.0微型电子接插件为被测对象进行验证。测量结果表明,所提出的方法比传统检测方法在准确度上提高了32%,从而验证了